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在磁性元器件設(shè)計(jì)的領(lǐng)域里，常用到的量測(cè)儀器便是LCR表。對(duì)于其量測(cè)頁面所顯示的許多L/C/R/Q/D/Y/G/B/Z/θ 量測(cè)結(jié)果，可能在許多使用到此類儀器的工程人員腦海中常會(huì)浮現(xiàn)出一些問號(hào)--- 電感、阻抗、Q值…是怎么量出來的？一般LCR表測(cè)試頻率在2MHz內(nèi)，采用的方式多是四端子自動(dòng)平衡電橋法。本文以HP4284A為例，以簡(jiǎn)化的測(cè)試回路來呈現(xiàn)四端子Lc-Lp-Hp-Hc測(cè)試點(diǎn)所在位置，藉由測(cè)試信號(hào)源Vosc與待測(cè)物(DUT)的端電壓Vm的關(guān)系引出LCR表里的偵測(cè)元件所直接量測(cè)的三個(gè)參數(shù)。再透過這三個(gè)參數(shù)搭配待測(cè)器件的等效串、并聯(lián)模型，引導(dǎo)出其量測(cè)頁面所顯示的L/C/R/Q/D/Y/G/B/Z是如何在儀表內(nèi)按相關(guān)設(shè)定的數(shù)學(xué)轉(zhuǎn)換公式，而得以間接被計(jì)算出來的。后提出了串、并聯(lián)模式的選用時(shí)機(jī)為何？引領(lǐng)讀者探索上述問題的答案，希望能對(duì)有志于從事磁性元器件的設(shè)計(jì)者有所幫助！
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